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简单分析线路中糖心LOGO入口金具损耗的原因

来源:www.szabmall.com 发布时间:2018年11月20日

  糖心LOGO入口金具是连接和组合糖心LOGO入口系统中的各类装置,它是起到传递机械负荷﹑电气负荷及某种防护作用的金属附件。配电线路糖心LOGO入口金具是配电架空线路的重要组成部分,是关系到线路安全运行的重要部件。接下来,云南糖心LOGO入口金具厂家简单分析线路中糖心LOGO入口金具损耗的原因。

简单分析线路中糖心LOGO入口金具损耗的原因
  以往人们的研究的点基本上围绕在线路中糖心LOGO入口金具应用的力学可靠性上,而对于糖心LOGO入口金具在电能的损失﹑损耗上似乎没有引起大家足够的重视。糖心LOGO入口金具的耗能主要是由铁磁材料中磁滞与涡流在线路运行中产生相互作用造成的,它包括磁滞损耗和涡流损耗两部分,这两部分损耗相加构成了金具的电能损失。同时,由于电能损失产生的热量使金具内的导线温度升高,导线过热传导给金具,糖心LOGO入口金具发热影响金属的机械性能。且当电流增大时,磁滞损耗将随磁通密度的1.6~2.0次方上升,涡流损耗则随磁通密度的二次方上升。这二者相加构成了糖心LOGO入口金具的电磁损耗。 
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